Technische Entwicklung

Unsere Arbeitsgruppe beschäftigt sich mit der Planung und Entwicklung von Ultrahochvakuum-Messtechnik. So werden die in unserer Forschung eingesetzten hochauflösenden Rastertunnelmikroskope (STMs) im Rahmen von Doktor- bzw. Masterarbeiten gefertigt. Die Neuentwicklungen in diesem Bereich umfassen UHV-AFM/STMs bei 0.4 K, Hochfrequenz-STMs zur zeitaufgelösten Messung mit atomarer Auflösung und Zeitauflösung 120 ps, STMs mit mehreren elektrischen Kontakten, STM-Spitzen deponiert auf GaAs Wafern und UHV-Masken-Positionierer mit Piezosteuerung.

Aktuelle Projekte

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Rastertunnelmikroskop mit 120ps Zeitauflösung
Vertikale Abbildung im Rasterelektronenmikroskop (SEM)
InAs-Spitzen aus Nanodrähten
He-3 Tieftemperatur-AFM/STM System mit 14T Magnetfeld
Mikroskope

Eigenbau Rastertunnelmikroskope. Links: Tieftemperatur (400mK) Ultrahochvakuum AFM/STM mit Q-Plus-Sensor. Rechts: Tieftemperatur-Hochfrequenz STM f√ľr UHV und hohe Magnetfelder konzipiert. Die Zeitaufl√∂sung betr√§gt 120 ps. Das Mikroskop erm√∂glich einen in situ Spitzenwechsel.