Instrumentation

Unsere Arbeitsgruppe verf√ľgt zur Zeit √ľber f√ľnf Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskope (UHV-STMs), darunter ein kombiniertes Rasterkraft-/Rastertunnelmikroskop, sowie einen Transportmessplatz zur Messung von elektrischen Leitf√§higkeiten bei 280mK und 10T. Zwei STM-Systeme arbeiten bei tiefen Temperaturen (5K und 380mK). Zwei weitere Tieftemperatur-STM Anlagen (400mK, 800mK) befinden sich im Aufbau. N√§here Informationen zu den Systemen erhalten Sie durch Anklicken der Felder.

Tieftemperatur-AFM/STM Anlage (380mK/14T)
Tieftemperatur-Hochfrequenz-STM System (6K/7T max/500mT rotierbar/200ps)
Tieftemperatur JT-STM System (500mK/3T/300ps)
Tieftemperatur STM System (im Aufbau, 800mK)
Raumtemperatur-STM 1
Raumtemperatur-STM 2
Hochfrequenz VT-STM-System (90-400K/120ps)
Transportmesssystem (280mK/10T)
Röntgenphotoemissions-Spektrometer-System