Instrumentation

Unsere Arbeitsgruppe verf√ľgt zur Zeit √ľber acht Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskope (UHV-STMs), darunter ein kombiniertes Rasterkraft-/Rastertunnelmikroskop, sowie einen Transportmessplatz zur Messung von elektrischen Leitf√§higkeiten bei 280mK und 10T. Drei STM-Systeme arbeiten bei tiefen Temperaturen (6K, 600mK und 380mK). Im Aufbau befindet sich eine weitere Tieftemperatur-STM Anlage (800mK), sowie ein trockenes STM-System, welches mit einem Pulse-Tube-K√ľhler arbeitet und 1K erreichen soll. Ein 4-Spitzen-Hochfrequenz-STM (Raumtemperatur, 400ps) befindet sich in der Testphase. N√§here Informationen zu den Systemen erhalten Sie durch Anklicken der Felder.

Tieftemperatur-AFM/STM Anlage (380mK/14T)
Tieftemperatur-Hochfrequenz-STM System (6K/7T max/500mT rotierbar/200ps)
Tieftemperatur Hochfrequenz-JT-STM System (600mK/3T/200ps)
Tieftemperatur STM System (im Aufbau, 800mK)
Trockenes Tieftemperatur-STM System (im Aufbau, 1K)
Raumtemperatur-STM 1
Raumtemperatur-STM 2
Hochfrequenz VT-STM-System (90-400K/120ps)
Transportmesssystem (280mK/10T)
4-Spitzen Hochfrequenz-Rastertunnelmikrospie-System