Probing fatigue in ferroelectric thin films with subnanometer depth resolution

Cao, Jiang-Li; Solbach, Axel; Klemradt, Uwe; Weirich, Thomas E.; Mayer, Joachim; Schorn, Peter Jörg; Böttger, Ulrich

Melville, N.Y : American Institute of Physics (2007)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics letters
Band: 91
Heft: 7
Seite(n)/Artikel-Nr.: 072905