Halbleiter

  STS Bild der lokalen Zustandsdichte eines Halbleiters bei 14 T Urheberrecht: © Markus Morgenstern Rastertunnelspektroskopiebild (STS) der lokalen Zustandsdichte (LDOS) mit einem ausgedehnten Zustand im Zentrum eines Landau-Niveaus.

Niederdimensionale III-V Halbleiter werden mit Hilfe von Rstertunnelmikroskopie/spektroskopie, Photoemissionsspektroskopie und Transportmessungen untersucht. Speziell dienen zwei-dimensionale Systeme als Prototypen für einstellbare Quantenphasenübergänge.

Zentrales Ziel ist die Bestimmung von Charakteristika der Elektronenphasen und Phasenübergängen im Realraum.

Methods

  • Winkelaufgelöste Photoemission (ARPES)
  • Rastertunnelmikroskopie (STM) und -spektroskopie (STS)
  Hartree-Rechnung der LDOS im Zentrum eines Landau-Niveaus. Urheberrecht: © Markus Morgenstern Hartree-Rechnung der lokalen Zustandsdichte von einem ausgedehnten Zustand im Zentrum eines Landau-Niveaus.