Intrinsic and extrinsic corrugation of monolayer graphene deposited on SiO2

Geringer, Viktor; Liebmann, Marcus; Echtermeyer, T.; Runte, S.; Schmidt, M.; Rückkamp, R.; Lemme, Max C.; Morgenstern, Markus

Ridge, NY : American Physical Society (2009)
Fachzeitschriftenartikel

In: Physical review letters : PRL
Band: 102
Heft: 7
Seite(n)/Artikel-Nr.: 076102