Effects of thermal annealing on the structure of ferroelectric thin films

Cao, Jiang-Li; Solbach, Axel; Klemradt, Uwe; Weirich, Thomas E.; Mayer, Joachim; Böttger, Ulrich; Ellerkmann, Ulrich; Schorn, Peter Jörg; Gerber, Peter; Waser, Rainer

Malden [u.a.] : Blackwell Publishing (2006)
Fachzeitschriftenartikel

In: Journal of the American Ceramic Society
Band: 89
Heft: 4
Seite(n)/Artikel-Nr.: 1321-1325