Microstructural Study of a Passivation Layer on GaAs : An Application of X-Ray Reflectivity Under Grazing Angles Using a Synchrotron Source

Crompton, K. E.; Finlayson, T. R.; Kirchner, C.; Seitz, M.; Klemradt, Uwe

Singapore : World Scientific Publ. (2003)

In: Surface review and letters : SRL
Band: 10
Heft: 2/3
Seite(n)/Artikel-Nr.: 373-379