Scanning tunneling microscopy with InAs nanowire tips

Föhr, Kilian; Sladek, Kamil Przemyslaw; Günel, H. Yusuf; Lepsa, Mihail Ion; Hardtdegen, Hilde; Liebmann, Marcus; Schäpers, Thomas; Morgenstern, Markus

Melville, N.Y : American Institute of Physics [u.a.] (2012)
Fachzeitschriftenartikel

In: Applied physics letters
Band: 101
Heft: 24
Seite(n)/Artikel-Nr.: 243101

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