In-situ x-ray reflectivity study of imprint in ferroelectric thin films

Cao, Jiang Li; Zhang, Kai; Solbach, Axel; Yue, Zhen Xing; Wang, Huang Hua; Chen, Yu; Klemradt, Uwe

Zürich-Stafa : Trans Tech Publ. (2011)
Fachzeitschriftenartikel

In: Materials science forum
Band: 687
Seite(n)/Artikel-Nr.: 292-296

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