Growth-induced interface roughness of GaAs/AlAs-layers studied by x-ray scattering

Klemradt, Uwe; Funke, M.; Fromm, M.; Lengeler, Bruno; Preisl, J.; Förster, A.

Amsterdam : Elsevier (1996)
Fachzeitschriftenartikel

In: Physica / B, Condensed matter
Band: 221
Heft: 1/4
Seite(n)/Artikel-Nr.: 27-33

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